測量分析和結(jié)果

首先測量時(shí)要考慮到被測工件的厚度、材料和幾何形狀等多種因素，選擇適合測量的儀器和探頭，這是檢測過程中至關(guān)重要的第一步。我們考慮到這個(gè)樣件尺寸較小，應(yīng)選擇測量面小的探頭。我們使用宇時(shí)先鋒超聲波測厚儀PM5 Gen2選用筆式延遲線探頭進(jìn)行測量是非常適合的，但是由于筆式探頭尖窄的延遲塊端部很難使探頭保持與被測材料表面垂直狀態(tài)，會導(dǎo)致回波信號小，甚至沒有回波。這時(shí)配合使用測試支架進(jìn)行測試，其尖窄的延遲塊端部可以將探頭耦合到尺寸非常小的測量面上，測量更穩(wěn)定，回波清晰，測值正確。

半導(dǎo)體材料被廣泛應(yīng)用到各個(gè)領(lǐng)域中，如果您想了解有關(guān)使用超聲波技術(shù)測量半導(dǎo)體材料厚度的方法，或在測量應(yīng)用中遇到問題，可以聯(lián)系我們郵寄樣件測試，我們將為您提供解決方案。